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深圳市三恩时科技有限公司

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  • 三恩时yt4500-p1一体两用涂层测厚仪
    三恩时yt4500-p1：基体：fe/nfe；探头形式：一体式；分辨率：0.1/1μm；测量范围：0~1250μm；测量精度：零点校正:±(3%h 1)μm；两点校正:±(1~3%h 1.5)μm；注:h为样品厚度；小测量尺寸：磁性：10×10mm；非磁性：10×10mm
    yt4500-p1 ￥1
  • 三恩时yt4500-p3分体两用涂层测厚仪
    三恩时yt4500-p3：基体：fe/nfe；探头形式：分体式；分辨率：0.1/1μm；测量范围：0~1250μm；测量精度：零点校正:±(3%h 1)μm；两点校正:±(1~3%h 1.5)μm；注:h为样品厚度；小测量尺寸：磁性：10×10mm；非磁性：10×10mm
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  • 三恩时yt4200-p1一体铁基涂层测厚仪
    三恩时yt4200-p1：基体：fe；探头形式：一体式；分辨率：0.1/1μm；测量范围：0~1250μm；测量精度：零点校正:±(3%h 1)μm；两点校正:±(1~3%h 1.5)μm；注:h为样品厚度；小测量尺寸：10×10mm
    yt4200-p1 ￥1
  • 三恩时yt4200-p3分体铁基涂层测厚仪
    三恩时yt4200-p3：基体：fe；探头形式：分体式；分辨率：0.1/1μm；测量范围：0~1250μm；测量精度：零点校正:±(3%h 1)μm；两点校正:±(1~3%h 1.5)μm；注:h为样品厚度；小测量尺寸：10×10mm
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  • 三恩时yt4200-p5一体铝基涂层测厚仪
    三恩时yt4200-p5：基体：nfe；探头形式：一体式；分辨率：0.1/1μm；测量范围：0~1250μm；测量精度：零点校正:±(3%h 1)μm；两点校正:±(1~3%h 1.5)μm；注:h为样品厚度；小测量尺寸：10×10mm
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  • 三恩时yt4200-p7分体铝基涂层测厚仪
    三恩时yt4200-p7：基体：nfe；探头形式：分体式；分辨率：0.1/1μm；测量范围：0~1250μm；测量精度：零点校正:±(3%h 1)μm；两点校正:±(1~3%h 1.5)μm；注:h为样品厚度；小测量尺寸：10×10mm
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  • 三恩时yt4200-p7分体铝基涂层测厚仪
    三恩时yt4200-p7：基体：nfe；探头形式：分体式；分辨率：0.1/1μm；测量范围：0~1250μm；测量精度：零点校正:±(3%h 1)μm；两点校正:±(1~3%h 1.5)μm；注:h为样品厚度；小测量尺寸：10×10mm
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  • 三恩时yt4200-p1 plus经济型一体铁基涂层测厚仪
    三恩时yt4200-p1 plus：基体模式：铁基；探头形式：一体式；分辨率：1μm；测量范围：0~1500μm；测量精度：零点校正:±(3%h 1)μm；两点校正:±(1~3%h 1.5)μm；注:h为样品厚度；显示屏：ips全彩屏, 1.14inch；存储数据：1000条
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  • 三恩时yt4200-p3 plus经济型分体铁基涂层测厚仪
    三恩时yt4200-p3 plus：基体模式：铁基；探头形式：分体式；分辨率：1μm；测量范围：0~1500μm；测量精度：零点校正:±(3%h 1)μm；两点校正:±(1~3%h 1.5)μm；注:h为样品厚度；显示屏：ips全彩屏, 1.14inch；存储数据：1000条
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  • 三恩时yt4200-p5 plus经济型一体铝基涂层测厚仪
    三恩时yt4200-p5 plus：基体模式：非铁基；探头形式：一体式；分辨率：1μm；测量范围：0~1500μm；测量精度：零点校正:±(3%h 1)μm；两点校正:±(1~3%h 1.5)μm；注:h为样品厚度；显示屏：ips全彩屏, 1.14inch；存储数据：1000条
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  • 三恩时yt4200-p7 plus经济型分体铝基涂层测厚仪
    三恩时yt4200-p7 plus：基体模式：非铁基；探头形式：分体式；分辨率：1μm；测量范围：0~1500μm；测量精度：零点校正:±(3%h 1)μm；两点校正:±(1~3%h 1.5)μm；注:h为样品厚度；显示屏：ips全彩屏, 1.14inch；存储数据：1000条
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  • 三恩时yt4500-p1 pro专业版一体两用涂层测厚仪
    三恩时yt4500-p1 pro：基体模式：铁基/非铁基；探头形式：一体式；分辨率：0.1μm，测量范围：0~5000μm；测量精度：零点校正:±(3%h 1)μm；两点校正:±(1~3%h 1.5)μm；注:h为样品厚度；显示屏：ips全彩屏, 1.14inch；存储数据：3500条
    yt4500-p1 pro ￥1
  • 三恩时yt4500-p3 pro专业版分体两用涂层测厚仪
    三恩时yt4500-p3 pro：基体模式：铁基/非铁基；探头形式：分体式；分辨率：0.1μm；测量范围：0~5000μm；测量精度：零点校正:±(3%h 1)μm；两点校正:±(1~3%h 1.5)μm；注:h为样品厚度；存储数据：3500条
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  • 三恩时yt4500-p3 plus标准版分体两用涂层测厚仪
    三恩时yt4500-p3 plus：基体模式：铁基/非铁基；探头形式：分体式；分辨率：0.1μm；测量范围：0~3000μm；测量精度：零点校正:±(3%h 1)μm；两点校正:±(1~3%h 1.5)μm；注:h为样品厚度；显示屏：ips全彩屏, 1.14inch；存储数据：2000条
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  • 三恩时yt4500-p1 plus标准版一体两用涂层测厚仪
    三恩时yt4500-p1 plus：基体模式：铁基/非铁基；探头形式：一体式；分辨率：0.1μm；测量范围：0~3000μm；测量精度：零点校正:±(3%h 1)μm；两点校正:±(1~3%h 1.5)μm；注:h为样品厚度；显示屏：ips全彩屏, 1.14inch；存储数据：2000条
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