目前的电子天平普遍采用内置校准砝码的补偿方法，即在电子天平内部设置-个校准砝码通过对校准砝码的称量得出当地的g值。这种补偿方法需要增加电子分析天平的机械加载机构和自校专用砝码,因此提高了产品成本和工艺复杂性。而且，内置砝码在长期使用后，难以进.行砝码检定和表面清洁处理易于造成电子分析天平的时漂误差。